Jeol révolutionne la préparation d’échantillons pour la cryomicroscopie électronique
Jeol a en effet annoncé l’introduction de son nouveau CRYO-FIB-SEM, un outil de pointe destiné à la préparation d’échantillons pour la cryomicroscopie électronique (Cryo-EM). Spécialement conçu pour créer des échantillons minces et congelés, le CRYO-FIB-SEM complète parfaitement la technologie …